臺(tái)式X熒光光譜儀分析法之一的粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點(diǎn)（不能用添加劑）。在各種應(yīng)用中，粉末方法通常既方便又迅速。接下來我們了解下幾個(gè)臺(tái)式X熒光光譜儀測(cè)試時(shí)粉末樣品誤差來源。
粉末樣品誤差主要來源：
（1） 粒度效應(yīng) 粉末樣品粒度效應(yīng)是指被測(cè)量樣品中的分析元素的熒光強(qiáng)度變化和樣品的粒度變化有關(guān)。一般來說，被分析樣品的粒度越小，熒光強(qiáng)度越高，輕元素尤甚。原子序數(shù)越小，對(duì)粒度越敏感；同一元素粒度越小，制樣穩(wěn)定性越好。一般要求粒度小于200 目。
（2） 偏析 偏析是指組分元素在樣品中分布的差異。偏析有兩種：粒間偏析：粉末顆粒A 和B 之間混合不均勻；元素偏析：元素分布對(duì)粒度分布的非勻質(zhì)性。如果在采用充分多步混合或微粉碎情況下仍不能解決，可用其它制樣手段，如熔融，溶解等。
（3）礦物效應(yīng) 由于礦物的化學(xué)結(jié)構(gòu)或微觀晶體形態(tài)不同，含量相同的同一元素在不同的礦物中，它們的熒光強(qiáng)度會(huì)有很大的差異。所謂的礦物效應(yīng)不單是針對(duì)礦物，在粉末樣品的X 熒光光譜儀分析中有著更廣泛的含義。
臺(tái)式X熒光光譜儀