在使用臺(tái)式X熒光光譜儀分析時(shí)，需要對(duì)其進(jìn)行基體效應(yīng)的校正，基體效應(yīng)一直以來都是一個(gè)很麻煩的問題，但是隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的不斷發(fā)展，已對(duì)小型X熒光光譜分析法采用數(shù)學(xué)校正法來校正元素間的相互影響這個(gè)方法可分為三類：經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論影響系數(shù)法和基本參數(shù)法。
經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法
這個(gè)方法是通過測定一定數(shù)量的一組標(biāo)樣(該組標(biāo)樣的元素含量應(yīng)打破相關(guān)性)，根據(jù)所給出的組份化學(xué)分析值和測得的熒光強(qiáng)度數(shù)據(jù)，通過非線性ZUI小二乘法或者人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)等數(shù)學(xué)模型，求得影響系數(shù)，來進(jìn)行元素定量分析的方法。
理論影響系數(shù)法
理論a系數(shù)法是在20世紀(jì)70年代發(fā)展起來的，也是受計(jì)算工具的限制，人們總是尋找簡單的數(shù)學(xué)模型，而又依從X熒光的基本理論。這種方理論影響系數(shù)法有多種模式，其數(shù)學(xué)模式是從Sherman方程推導(dǎo)出來的，只是各自采用了某種假設(shè)或者近似，目前應(yīng)用比較廣泛，可對(duì)基體情況變化較大的樣品進(jìn)行計(jì)算。
基本參數(shù)法
基本參數(shù)法是應(yīng)用熒光X射線強(qiáng)度理論計(jì)算公式及原級(jí)X射線的光譜強(qiáng)度分布、質(zhì)量吸收系數(shù)、熒光產(chǎn)額、吸收限躍遷因子和譜線分?jǐn)?shù)等基本物理常數(shù)，通過復(fù)雜的數(shù)學(xué)迭代運(yùn)算，把測量強(qiáng)度轉(zhuǎn)換為元素含量的一種數(shù)學(xué)校正方法。該法影響因素復(fù)雜，計(jì)算量巨大，其計(jì)算準(zhǔn)確性主要取決于理論相對(duì)強(qiáng)度計(jì)算的準(zhǔn)確性。它需要的標(biāo)樣很少，但基本參數(shù)值的相對(duì)誤差可達(dá)2%~5%，基體組成也不要求與標(biāo)樣相似，在適當(dāng)條件下，使用單標(biāo)樣甚至不用標(biāo)樣也可以給出近似的可接受的結(jié)果?；緟?shù)法可以有效的降低對(duì)標(biāo)樣數(shù)量的要求是少標(biāo)樣、無標(biāo)樣定量分析的根本。
以上就是使用臺(tái)式X熒光光譜儀時(shí)，基體效應(yīng)的校正方法。