在使用手持式X熒光光譜儀時(shí)我們經(jīng)常聽(tīng)說(shuō)的一個(gè)專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)，就是：“基體效應(yīng)”，那這個(gè)基體效應(yīng)是什么呢？簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，基體效應(yīng)是X射線熒光光譜儀定量分析的主要誤差來(lái)源之一。
我們?cè)诹私饣w效應(yīng)的同時(shí)首先應(yīng)該要知道什么是“基體”。所謂基體就是在手持式X熒光光譜儀的測(cè)量過(guò)程中，實(shí)際工作中被測(cè)量的樣品，往往其成份是由多種元素組成，除待測(cè)元素以外的元素統(tǒng)稱(chēng)為基體。
由于被測(cè)量的樣品中，其基體成份是變化的(這個(gè)變化一是指元素的 變化，二是指含量的變化)，它直接影響待測(cè)元素特征X射線強(qiáng)度的測(cè)量。換句話說(shuō)，待測(cè)元素含量相同，由于其基體成份不同，測(cè)量到的待測(cè)元素特征X射線強(qiáng)度也是不同的，這就是基體效應(yīng)。
在手持式X熒光光譜儀中基體效應(yīng)是個(gè)無(wú)法避免的客觀事實(shí)，其物理實(shí)質(zhì)是激發(fā)(吸收)和散射造成特征X射線強(qiáng)度的變化，除待測(cè)元素外，基體成份中靠近待測(cè)元素的那些元素對(duì)激發(fā)源的 射線和待測(cè)元素特征X射線產(chǎn)生光電效應(yīng)的幾率比輕元素(在地質(zhì)樣品中一些常見(jiàn)的主要造巖元素)的幾率大得多，也就是這些鄰近元素對(duì)激發(fā)源發(fā)射的X射線和待測(cè)元素的特征X射線的吸收系數(shù)比輕元素大得多;輕元素對(duì)激發(fā)源放出的射線和待測(cè)元素的特征X射線康普頓散射幾率比重元素大得多。
在手持式X熒光光譜儀中基體效應(yīng)是個(gè)無(wú)法避免的客觀事實(shí)，其物理實(shí)質(zhì)是激發(fā)(吸收)和散射造成特征X射線強(qiáng)度的變化，除待測(cè)元素外，基體成份中靠近待測(cè)元素的那些元素對(duì)激發(fā)源的 射線和待測(cè)元素特征X射線產(chǎn)生光電效應(yīng)的幾率比輕元素(在地質(zhì)樣品中一些常見(jiàn)的主要造巖元素)的幾率大得多，也就是這些鄰近元素對(duì)激發(fā)源發(fā)射的X射線和待測(cè)元素的特征X射線的吸收系數(shù)比輕元素大得多;輕元素對(duì)激發(fā)源放出的射線和待測(cè)元素的特征X射線康普頓散射幾率比重元素大得多。
除了基體效應(yīng)，我們?cè)谑殖质絏熒光光譜儀中還分一些其它的效應(yīng)，比如：
1. 放射源放出的射線激發(fā)待測(cè)元素A，產(chǎn)生特征X射線AK線稱(chēng)為光電效應(yīng)。
2.AKX線在出射樣品時(shí)遇到C元素激發(fā)了C元素特征X射線CK而A元素特征X射線強(qiáng)度減小了，稱(chēng)為吸收效應(yīng)。
3.放射源激發(fā)了B元素，BKX線又激發(fā)了A元素，使A元素特征X射線計(jì)數(shù)增加，稱(chēng)為增強(qiáng)效應(yīng)，又稱(chēng)為二次熒光。
1. 放射源放出的射線激發(fā)待測(cè)元素A，產(chǎn)生特征X射線AK線稱(chēng)為光電效應(yīng)。
2.AKX線在出射樣品時(shí)遇到C元素激發(fā)了C元素特征X射線CK而A元素特征X射線強(qiáng)度減小了，稱(chēng)為吸收效應(yīng)。
3.放射源激發(fā)了B元素，BKX線又激發(fā)了A元素，使A元素特征X射線計(jì)數(shù)增加，稱(chēng)為增強(qiáng)效應(yīng)，又稱(chēng)為二次熒光。
以上就是我們常常聽(tīng)到的關(guān)于手持式X熒光光譜儀的一些有關(guān)“基體效應(yīng)”的常識(shí)。