眾所周知，手持x熒光光譜儀是一種原子發(fā)射方法，被測樣品被X射線管通過產(chǎn)生的入射X射線激發(fā)。之后受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，這個射線我們也叫X熒光，這個射線具有特定的能量特性或波長特性。熒光光譜儀的探測系統(tǒng)就是測量這些的。
此外，x射線熒光光譜儀還可以使快速篩選分析。那么接下來就和創(chuàng)想小編一起來溫故一下手持x射線熒光光譜儀檢測的基本過程吧！
x射線熒光光譜儀可以在原子級發(fā)生的簡單三步過程中考慮：
傳入的 X 射線從材料原子內(nèi)的原子核周圍的軌道之一中敲出電子。
在軌道中產(chǎn)生一個空穴，導(dǎo)致原子具有高能量、不穩(wěn)定的構(gòu)型。
為了恢復(fù)平衡，一個電子從更高能量的外軌道落入空穴。由于這是一個較低的能量位置，多余的能量以熒光 X 射線的形式發(fā)射。
排出電子和替代電子之間的能量差異是發(fā)生熒光過程的元素原子的特征——因此，發(fā)射的熒光 X 射線的能量與被分析的特定元素直接相關(guān)。正是這一關(guān)鍵特性使 XRF 成為如此快速的元素組成分析工具。
現(xiàn)如今XRF分析已經(jīng)是一種可靠且成熟的技術(shù)了。它具有高精度和高準(zhǔn)確度，它可以很容易地實(shí)現(xiàn)自動化，以便于在高通量工業(yè)環(huán)境中應(yīng)用。
創(chuàng)想手持光譜合金分析儀在金屬冶煉中的應(yīng)用