眾所周知使用X熒光光譜儀的分析的過程中，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，所以我們需要注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性。此外，還要注意樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。其實(shí)有很多原因會(huì)導(dǎo)致X熒光光譜儀的樣品有誤差，但是只要好好了解相關(guān)的原因，做到熟記于心，自然誤差也會(huì)減少許多。下面小編來給大家介紹下樣品自身會(huì)引起的誤差。
1、由樣品制備和樣品自身引起的誤差：
（1） 樣品的均勻性。
（2） 樣品的表面效應(yīng)。
（3） 粉末樣品的粒度和處理方法。
（4） 樣品中存在的譜線干擾。
（5） 樣品本身的共存元素影響即基體效應(yīng)。
（6） 樣品的性質(zhì)。
（7） 標(biāo)準(zhǔn)樣品的化學(xué)值的準(zhǔn)確性。
創(chuàng)想X熒光光譜儀系列