X射線熒光光譜儀是目前來說比較普遍的一種質(zhì)量檢測(cè)手段，在我國(guó)各行各業(yè)都應(yīng)用越來越廣泛。X射線熒光分析過程中產(chǎn)生誤差的原因主要有操作方面、儀器方面、以及試樣本身等三方面因素。今天我們來聊一下 X熒光光譜儀分析中操作方面的誤差因素。
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X熒光光譜分析的基本原理
1、在X熒光光譜儀分析制樣過程中，粉磨時(shí)沒有控制好粉磨時(shí)間和壓力，達(dá)不到要求的粉磨粒度或相應(yīng)的料度分布。
實(shí)驗(yàn)表明當(dāng)粉磨時(shí)間短于試驗(yàn)設(shè)定時(shí)間，測(cè)定結(jié)果就會(huì)產(chǎn)生波動(dòng)。同時(shí)，粉磨時(shí)未按規(guī)定加適量助磨劑或所加助磨劑中含有所要分析的元素，都會(huì)給測(cè)定結(jié)果帶來較大影響。當(dāng)然還需要注意的是，磨頭和磨盤里留有前期樣品或被其它物質(zhì)污染，結(jié)果也會(huì)產(chǎn)生誤差。?
2、X熒光光譜儀分析制樣過程中壓片時(shí)，未設(shè)定好時(shí)間和壓力，壓力效果不好或壓片時(shí)樣品布入不均勻而產(chǎn)生了樣品的堆積分布不均，或壓片板（壓片頭）不潔凈（或上面粘有前期樣品）等，都會(huì)影響分析結(jié)果。? ?
3、當(dāng)樣品制好后，制樣未保護(hù)好，制樣裝入試樣盒的位置不當(dāng)，結(jié)果給分析帶來誤差。
制樣未保護(hù)好有兩層含義：
①制樣光潔度。如用手指摸分析面、或用手指甲劃、用口吹、用濕毛巾擦分析面等；
②制樣在空氣中放置太久，使分析面與空氣中物質(zhì)發(fā)生了物理化學(xué)變化。制樣裝盒位置不當(dāng)，把測(cè)樣片裝倒了或測(cè)樣片表面與試樣盒表面成一傾斜角等，都會(huì)影響到射線管與分析面的距離，從而產(chǎn)生誤差。?
4、在X熒光光譜儀分析中，要除掉分析面上的樣品灰未，否則時(shí)間長(zhǎng)了會(huì)影響到儀器真空度。另外操作者不可粗心，分析程序不要選錯(cuò)。